Skip to content

Основы теории статистических измерений Э. И. Цветков

У нас вы можете скачать книгу Основы теории статистических измерений Э. И. Цветков в fb2, txt, PDF, EPUB, doc, rtf, jar, djvu, lrf!

Э.И.Цветков, ОСНОВЫ ТЕОРИИ СТАТИСТИЧЕСКИХ ИЗМЕРЕНИЙ. Скачать документ (DJVU). Для рекламодателей. Портал РОСЭКСПЕРТПРАВО. Адрес для корреспонденции: г. Москва, 3-й проезд Перова поля д 8 стр 11 оф Техническая поддержка: [email protected] Правила пользования. Телефоны: +7 +7 В монографии представлены основы теории математических моделей объектов, условий, процедур и средств измерений. Дан формализованный аппарат описания моделей объектов и процедур, свойств результатов и погрешностей результатов измерений. Представлено базовое алгоритмическое обеспечение метрологического анализа типовых процедур измерений.  Основы математической метрологии, Цветков Э.И., В монографии представлены основы теории математических моделей объектов, условий, процедур и средств измерений. Дан формализованный аппарат описания моделей объектов и процедур, свойств результатов и погрешностей результатов измерений. Эрик Цветков. Описание. Книга посвящена разработке новой теории измерений вероятностных характеристик случайных процессов. Построена система соотношений, определяющих результаты измерений и методические погрешности. Приведены типовые структуры измерительных устройств. Книга предназначена для специалистов, занимающихся исследованием свойств случайных процессов, разработкой методов и средств измерений вероятностных характеристик, а также синтезом методов и средств обработки полезных сигналов на фоне помех во всех областях информационной и управляющей техники. Основы теории статистических измерений. Автор. Эрик Иванович Цветков. Издание: перепечатанное. Издатель. Энергоатомиздат, Ленинградское отд-ние, Владелец оригинала: Калифорнийский университет. Цветков Э. И. Скачать (djvu, Mb) Читать. | Статьи партнёров. Основы теории статистических измерений (Цветков Э. И.) 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 21 22 23 24 25 26 27 28 29 30 31 32 33 34 35 36 37 38 39 40 41 42 43 44 45 46 47 48 49 50 51 52 53 54 55 56 57 58 59 60 61 62 64 65 66 67 68 69 70 71 72 73 74 75 76 77 78 79 80 81 82 83 84 85 86 87 88 89 90 91 92 93 94 95 96 97 98 99 Основы теории статистических измерений. Сохранить в: Главный автор: Цветков Э. И. Язык: Russian.  Статистическая теория неравновесных процессов в плазме по: Климонтович Ю. Л. Опубликовано: (). Элементарные оценки ошибок измерений по: Зайдель А.Н. Опубликовано: (). Основы метрологии и теории точности измерительных устройств: учеб. пособие для студ. вузов, обучающихся по спец. "Приборы точной механики" по: Коротков В. П. Опубликовано: (). Опции поиска. История поисков. Эрик Цветков. Рассмотрены основы теории измерений вероятностных характеристик случайных процессов. Представлены методы определения погрешностей и их характеристик. Приведены типовые структуры измерительных устройств. Первое издание вышло в г. Книга рассчитана на специалистов, занимающихся исследованием свойств случайных процессов, разработкой методов и средств измерений вероятностных характеристик, а также синтезом методов и средств обработки полезных сигналов на фоне помех во всех областях информационной и управляющей техники. Э. И. Цветков. Основы теории статистических измерений. Рассмотрены основы теории измерений вероятностных характеристик случайных процессов. Представлены методы определения погрешностей и их характеристик. Приведенытиповые структуры измерительных — Энергоатомиздат. Л.: Энергоатомиздат. Ленингр. отд-ние, — с. Рассмотрены основы теории измерений вероятностных характеристик случайных процессов. Представлены методы определения погрешностей и их характеристик. Приведены типовые структуры измерительных устройств. Первое издание вышло в г. Книга рассчитана на специалистов, занимающихся исследованиями свойств случайных процессов, разработке методов и средств измерения вероятностных характеристик, а также синтезом методов и средств обработки полезных сигналов на фоне помех во всех областях информационной и управляющей техники.